德國菲希爾X射線熒光測厚儀信息

更新時間：2025-09-09

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技術原理

能量色散 X 射線熒光技術（EDXRF）

XDL 系列測厚儀利用 X 射線激發樣品，使樣品中的元素發射出特征 X 射線熒光。不同元素的特征 X 射線熒光具有特定的能量，通過探測器檢測這些熒光的能量和強度，并進行能譜分析，即可確定樣品中所含元素的種類和含量。對于鍍層厚度的測量，儀器根據特征 X 射線熒光強度與鍍層厚度的關系，經過精確的算法計算得出鍍層厚度。

基本參數法

該系列儀器采用菲希爾基本參數法，這一先進技術使得儀器在沒有標準片的情況下，也能對鍍層系統、固體和液體樣品進行準確的測量和分析。它基于物質對 X 射線的吸收和熒光產生的基本物理原理，通過輸入樣品的基本參數（如元素組成、密度等），利用復雜的算法計算出測量結果，大大提高了檢測的靈活性，降低了對標準樣品的依賴，同時也減少了因標準樣品不準確或缺失帶來的測量誤差。

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