FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237測厚儀信息

更新時間：2025-10-11

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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237測厚儀臺式自動化測量設備，其融合高精度定位系統、靈活探測技術與人性化操作設計，可滿足電子、珠寶、制造等多行業的質量控制、生產監控及研發需求，是兼顧測量精度與檢測效率的專業解決方案。應用領域

電子與半導體工業

測量印刷電路板 Au/Pd 等納米級超薄鍍層（≤0.1μm），檢測接插件功能性涂層厚度，分析焊料中鉛含量等關鍵指標。

珠寶與貴金屬行業

黃金飾品鍍層厚度檢測、貴金屬純度分析，適配 hallmarking（印記認證）中心的標準化檢測需求。

通用制造與研發

多涂層系統厚度測量、合金成分分析、硬質涂層檢測，支持來料檢驗與生產過程中的批量質量篩查。

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