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更新時(shí)間:2025-09-02
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FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀介紹:
多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層(如50 nm Au或100 μmSn)都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達(dá)到在很短的測量距離內(nèi)小到100 μm的測量點(diǎn)大小。高達(dá)數(shù)kcps的計(jì)數(shù)率可以被比例接收器接收到。對(duì)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說,X射線源和接收器位于測量室的下方,這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外,視頻窗口也可以輔助定位,儀器前方的大控制臺(tái)簡化了操作,特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊,但這些儀器都有大容量的測量室,這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計(jì)(C型槽)可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品,即使這些樣品可能無法*放入測量室,樣品直接放置在平整的支撐臺(tái)上,或者定位精度更高的手動(dòng)XY工作臺(tái)上。
XULM 240介紹:
XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管,測量點(diǎn)小可達(dá)約100μm,同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對(duì)高的計(jì)數(shù)率。即使很短的測量時(shí)間也可以達(dá)到很好的重復(fù)精度。此外,XULM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵(lì)條件。
特征: 典型應(yīng)用領(lǐng)域: |
應(yīng)用實(shí)例:
XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為?0.25mm的準(zhǔn)直器測量,20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。
測量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB |
測量黃金珠寶 |
測量防腐保護(hù): Zn/Fe |
測量汽車: Cr/Ni/Cu/ABS |
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