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  FISCHER 測厚儀 X射線 XDAL237

  XDAL® 237 是一款兼顧高精度與自動化的全能型 X 射線測厚儀，特別適合對超薄涂層和低含量材料有嚴格測量要求的行業，如電子半導體、貴金屬加工和制造業。其模塊化設計和靈活配置選項使其能夠適應各種復雜測量任務，是質量控制和研發實驗室的理想選擇。

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  XDAL237 X射線熒光測厚儀

  XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。

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